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編輯點(diǎn)評：硬盤健康狀態(tài)信息檢測工具

CrystalDiskInfo專業(yè)且免費(fèi)好用的一款電腦硬盤信息檢測工具，支持機(jī)械硬盤，固態(tài)硬盤信息檢測，采用了最新的S.M.A.R.T.技術(shù)檢測分析，更方便的讀取磁盤的詳細(xì)信息，包含了溫度，固件，序列號等內(nèi)容，更方便的處理和檢測務(wù)類參數(shù)。

使用方法

1、軟件不用安裝打開即用；

2、然后進(jìn)入CrystalDiskInfo主界面，可以看到基本的情況

3、點(diǎn)擊菜單欄上的“硬盤”選項(xiàng)卡可以切換到不同的硬盤狀態(tài)

4、健康狀態(tài)的硬盤和非健康狀態(tài)下的硬盤可以通過直觀的圖示顯示出來

5、如果出現(xiàn)非健康狀態(tài)，一定要引起重視。如果在保修期內(nèi)，可以聯(lián)系廠商進(jìn)行售后處理。如果已經(jīng)過保，要及時(shí)備份重要數(shù)據(jù)。

crystaldiskinfo參數(shù)解讀

當(dāng)前值（value）

當(dāng)前值是各ID項(xiàng)在硬盤運(yùn)行時(shí)根據(jù)實(shí)測原始數(shù)據(jù)（Raw value）通過公式計(jì)算的結(jié)果，1到253之間。253意味著最好情況，1意味著最壞情況。計(jì)算公式由硬盤廠家自定。

硬盤出廠時(shí)各ID項(xiàng)目都有一個(gè)預(yù)設(shè)的最大正常值，也即出廠值，這個(gè)預(yù)設(shè)的依據(jù)及計(jì)算方法為硬盤廠家保密，不同型號的硬盤都不同，最大正常值通常為100或200或253，新硬盤剛開始使用時(shí)顯示的當(dāng)前值可以認(rèn)為是預(yù)設(shè)的最大正常值（有些ID項(xiàng)如溫度等除外）。隨著使用損耗或出現(xiàn)錯(cuò)誤，當(dāng)前值會(huì)根據(jù)實(shí)測數(shù)據(jù)而不斷刷新并逐漸減小。因此，當(dāng)前值接近臨界值就意味著硬盤壽命的減少，發(fā)生故障的可能性增大，所以當(dāng)前值也是判定硬盤健康狀態(tài)或推測壽命的依據(jù)之一。

最差值（Worst）

最差值是硬盤運(yùn)行時(shí)各ID項(xiàng)曾出現(xiàn)過的最小的value。

最差值是對硬盤運(yùn)行中某項(xiàng)數(shù)據(jù)變劣的峰值統(tǒng)計(jì)，該數(shù)值也會(huì)不斷刷新。通常，最差值與當(dāng)前值是相等的，如果最差值出現(xiàn)較大的波動(dòng)（小于當(dāng)前值），表明硬盤曾出現(xiàn)錯(cuò)誤或曾經(jīng)歷過惡劣的工作環(huán)境（如溫度）。

臨界值（Threshold）

在報(bào)告硬盤FAILED狀態(tài)前，WORST可以允許的最小值。

臨界值是硬盤廠商指定的表示某一項(xiàng)目可靠性的門限值，也稱閾值，它通過特定公式計(jì)算而得。如果某個(gè)參數(shù)的當(dāng)前值接近了臨界值，就意味著硬盤將變得不可靠，可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失或者硬盤故障。由于臨界值是硬盤廠商根據(jù)自己產(chǎn)品特性而確定的，因此用廠商提供的專用檢測軟件往往會(huì)跟Windows下檢測軟件的檢測結(jié)果有較大出入。

硬盤的每項(xiàng)SMART信息中都有一個(gè)臨界值（閾值），不同硬盤的臨界值是不同的，SMART針對各項(xiàng)的當(dāng)前值、最差值和臨界值的比較結(jié)果以及數(shù)據(jù)值進(jìn)行分析后，提供硬盤當(dāng)前的評估狀態(tài)，也是我們直觀判斷硬盤健康狀態(tài)的重要信息。根據(jù)SMART的規(guī)定，狀態(tài)一般有正常、警告、故障或錯(cuò)誤三種狀態(tài)。

SMART判定這三個(gè)狀態(tài)與SMART的 Pre-failure/advisory BIT（預(yù)測錯(cuò)誤/發(fā)現(xiàn)位）參數(shù)的賦值密切相關(guān)，當(dāng)Pre-failure/advisory BIT=0，并且當(dāng)前值、最差值遠(yuǎn)大于臨界值的情況下，為正常標(biāo)志。當(dāng)Pre-failure/advisory BIT=0，并且當(dāng)前值、最差值大于但接近臨界值時(shí)，為警告標(biāo)志；當(dāng)Pre-failure/advisory BIT=1，并且當(dāng)前值、最差值小于臨界值時(shí)，為故障或錯(cuò)誤標(biāo)志

原始值(RAW_VALUE)

制造商定義的原始值，從VALUE派生。

數(shù)據(jù)值是硬盤運(yùn)行時(shí)各項(xiàng)參數(shù)的實(shí)測值，大部分SMART工具以十進(jìn)制顯示數(shù)據(jù)。

數(shù)據(jù)值代表的意義隨參數(shù)而定，大致可以分為三類：

1）數(shù)據(jù)值并不直接反映硬盤狀態(tài)，必須經(jīng)過硬盤內(nèi)置的計(jì)算公式換算成當(dāng)前值才能得出結(jié)果；

2）數(shù)據(jù)值是直接累計(jì)的，如Start/Stop Count（啟動(dòng)/停止計(jì)數(shù)）的數(shù)據(jù)是50，即表示該硬盤從出廠到現(xiàn)在累計(jì)啟停了50次；

3）有些參數(shù)的數(shù)據(jù)是即時(shí)數(shù)，如Temperature（溫度）的數(shù)據(jù)值是44，表示硬盤的當(dāng)前溫度是44℃。

因此，有些參數(shù)直接查看數(shù)據(jù)也能大致了解硬盤目前的工作狀態(tài)。

01（001）底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率 Raw Read Error Rate

數(shù)據(jù)為0或任意值，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于與臨界值。

底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率是磁頭從磁盤表面讀取數(shù)據(jù)時(shí)出現(xiàn)的錯(cuò)誤，對某些硬盤來說，大于0的數(shù)據(jù)表明磁盤表面或者讀寫磁頭發(fā)生問題，如介質(zhì)損傷、磁頭污染、磁頭共振等等。不過對希捷硬盤來說，許多硬盤的這一項(xiàng)會(huì)有很大的數(shù)據(jù)量，這不代表有任何問題，主要是看當(dāng)前值下降的程度。

在固態(tài)硬盤中，此項(xiàng)的數(shù)據(jù)值包含了可校正的錯(cuò)誤與不可校正的RAISE錯(cuò)誤（UECC＋URAISE）。

注：RAISE（Redundant Array of Independent Silicon Elements）意為獨(dú)立硅元素冗余陣列，是固態(tài)硬盤特有的一種冗余恢復(fù)技術(shù)，保證內(nèi)部有類似RAID陣列的數(shù)據(jù)安全性。

02（002）磁盤讀寫通量性能 Throughput Performance

此參數(shù)表示硬盤的讀寫通量性能，數(shù)據(jù)值越大越好。當(dāng)前值如果偏低或趨近臨界值，表示硬盤存在嚴(yán)重的問題，但現(xiàn)在的硬盤通常顯示數(shù)據(jù)值為0或根本不顯示此項(xiàng)，一般在進(jìn)行了人工脫機(jī)SMART測試后才會(huì)有數(shù)據(jù)量。

03（003）主軸起旋時(shí)間 Spin Up Time

主軸起旋時(shí)間就是主軸電機(jī)從啟動(dòng)至達(dá)到額定轉(zhuǎn)速所用的時(shí)間，數(shù)據(jù)值直接顯示時(shí)間，單位為毫秒或者秒，因此數(shù)據(jù)值越小越好。不過對于正常硬盤來說，這一項(xiàng)僅僅是一個(gè)參考值，硬盤每次的啟動(dòng)時(shí)間都不相同，某次啟動(dòng)的稍慢些也不表示就有問題。

硬盤的主軸電機(jī)從啟動(dòng)至達(dá)到額定轉(zhuǎn)速大致需要4秒～15秒左右，過長的啟動(dòng)時(shí)間說明電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路或者軸承機(jī)構(gòu)有問題。旦這一參數(shù)的數(shù)據(jù)值在某些型號的硬盤上總是為0，這就要看當(dāng)前值和最差值來判斷了。

對于固態(tài)硬盤來說，所有的數(shù)據(jù)都是保存在半導(dǎo)體集成電路中，沒有主軸電機(jī)，所以這項(xiàng)沒有意義，數(shù)據(jù)固定為0，當(dāng)前值固定為100。

04（004）啟停計(jì)數(shù) Start/Stop Count

這一參數(shù)的數(shù)據(jù)是累計(jì)值，表示硬盤主軸電機(jī)啟動(dòng)/停止的次數(shù)，新硬盤通常只有幾次，以后會(huì)逐漸增加。系統(tǒng)的某些功能如空閑時(shí)關(guān)閉硬盤等會(huì)使硬盤啟動(dòng)/停止的次數(shù)大為增加，在排除定時(shí)功能的影響下，過高的啟動(dòng)/停止次數(shù)（遠(yuǎn)大于通電次數(shù)0C）暗示硬盤電機(jī)及其驅(qū)動(dòng)電路可能有問題。

這個(gè)參數(shù)的當(dāng)前值是依據(jù)某種公式計(jì)算的結(jié)果，例如對希捷某硬盤來說臨界值為20，當(dāng)前值是通過公式“100－（啟停計(jì)數(shù)/1024）”計(jì)算得出的。若新硬盤的啟停計(jì)數(shù)為0，當(dāng)前值為100－(0/1024)＝100，隨著啟停次數(shù)的增加，該值不斷下降，當(dāng)啟停次數(shù)達(dá)到81920次時(shí)，當(dāng)前值為100－(81920/1024)＝20，已達(dá)到臨界值，表示從啟停次數(shù)來看，該硬盤已達(dá)設(shè)計(jì)壽命，當(dāng)然這只是個(gè)壽命參考值，并不具有確定的指標(biāo)性。

這一項(xiàng)對于固態(tài)硬盤同樣沒有意義，數(shù)據(jù)固定為0，當(dāng)前值固定為100。

05（005）重映射扇區(qū)計(jì)數(shù) Reallocated Sectors Count/ 退役塊計(jì)數(shù) Retired Block Count

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于臨界值。

當(dāng)硬盤的某扇區(qū)持續(xù)出現(xiàn)讀/寫/校驗(yàn)錯(cuò)誤時(shí)，硬盤固件程序會(huì)將這個(gè)扇區(qū)的物理地址加入缺陷表(G-list)，將該地址重新定向到預(yù)先保留的備用扇區(qū)并將其中的數(shù)據(jù)一并轉(zhuǎn)移，這就稱為重映射。執(zhí)行重映射操作后的硬盤在Windows常規(guī)檢測中是無法發(fā)現(xiàn)不良扇區(qū)的，因其地址已被指向備用扇區(qū)，這等于屏蔽了不良扇區(qū)。

這項(xiàng)參數(shù)的數(shù)據(jù)值直接表示已經(jīng)被重映射扇區(qū)的數(shù)量，當(dāng)前值則隨著數(shù)據(jù)值的增加而持續(xù)下降。當(dāng)發(fā)現(xiàn)此項(xiàng)的數(shù)據(jù)值不為零時(shí)，要密切注意其發(fā)展趨勢，若能長期保持穩(wěn)定，則硬盤還可以正常運(yùn)行；若數(shù)據(jù)值不斷上升，說明不良扇區(qū)不斷增加，硬盤已處于不穩(wěn)定狀態(tài)，應(yīng)當(dāng)考慮更換了。如果當(dāng)前值接近或已到達(dá)臨界值（此時(shí)的數(shù)據(jù)值并不一定很大，因?yàn)椴煌�硬盤保留的備用扇區(qū)數(shù)并不相同），表示缺陷表已滿或備用扇區(qū)已用盡，已經(jīng)失去了重映射功能，再出現(xiàn)不良扇區(qū)就會(huì)顯現(xiàn)出來并直接導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。

這一項(xiàng)不僅是硬盤的壽命關(guān)鍵參數(shù)，而且重映射扇區(qū)的數(shù)量也直接影響硬盤的性能，例如某些硬盤會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)量很大，但當(dāng)前值下降不明顯的情況，這種硬盤盡管還可正常運(yùn)行，但也不宜繼續(xù)使用。因?yàn)閭溆蒙葏^(qū)都是位于磁盤尾部（靠近盤片軸心處），大量的使用備用扇區(qū)會(huì)使尋道時(shí)間增加，硬盤性能明顯下降。

這個(gè)參數(shù)在機(jī)械硬盤上是非常敏感的，而對于固態(tài)硬盤來說同樣具有重要意義。閃存的壽命是正態(tài)分布的，例如說MLC能寫入一萬次以上，實(shí)際上說的是寫入一萬次之前不會(huì)發(fā)生“批量損壞”，但某些單元可能寫入幾十次就損壞了。換言之，機(jī)械硬盤的盤片不會(huì)因讀寫而損壞，出現(xiàn)不良扇區(qū)大多與工藝質(zhì)量相關(guān)，而閃存的讀寫次數(shù)則是有限的，因而損壞是正常的。所以固態(tài)硬盤在制造時(shí)也保留了一定的空間，當(dāng)某個(gè)存儲(chǔ)單元出現(xiàn)問題后即把損壞的部分隔離，用好的部分來頂替。這一替換方法和機(jī)械硬盤的扇區(qū)重映射是一個(gè)道理，只不過機(jī)械硬盤正常時(shí)極少有重映射操作，而對于固態(tài)硬盤是經(jīng)常性的。

在固態(tài)硬盤中這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)會(huì)隨著使用而不斷增長，只要增長的速度保持穩(wěn)定就可以。通常情況下，數(shù)據(jù)值＝100－（100×被替換塊/必需塊總數(shù)），因此也可以估算出硬盤的剩余壽命。

Intel固態(tài)硬盤型號的第十二個(gè)字母表示了兩種規(guī)格，該字母為1表示第一代的50納米技術(shù)的SSD，為2表示第二代的34納米技術(shù)的SSD，如SSDSA2M160G2GN就表示是34nm的SSD。所以參數(shù)的查看也有兩種情況：

50nm的SSD（一代）要看當(dāng)前值。這個(gè)值初始是100，當(dāng)出現(xiàn)替換塊的時(shí)候這個(gè)值并不會(huì)立即變化，一直到已替換四個(gè)塊時(shí)這個(gè)值變?yōu)?，之后每增加四個(gè)塊當(dāng)前值就＋1。也就是100對應(yīng)0～3個(gè)塊，1對應(yīng)4～7個(gè)塊，2對應(yīng)8～11個(gè)塊……

34nm的SSD（二代）直接查看數(shù)據(jù)值，數(shù)據(jù)值直接表示有多少個(gè)被替換的塊。

更新日志

8.12.5 [2021/08/05]

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